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X射线测厚仪

x射线测厚仪/面密度仪利用X射线穿透被测材料时,X射线强 度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度(面密度),是一种非接触式的动态计量仪器。它以嵌入式核心控制单元和工业控制计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给厚度(面密度)控制系统,计算出被测材料的厚度(面密度)

浏览次数:125 发布时间:2026-08-28

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